Zdjęcia Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications
Literatura obcojęzyczna
Dostępność:Do kupienia
Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications (John Wiley & Sons Inc)
Do kupienia w: Marka: John Wiley & Sons Inc
1 288,32 zł
Idź do sklepuSuper oferta
Skrócony opis produktu
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic...
Prezentowany towar Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications dostępny jest w Libristo.pl w naprawdę wartej rozważenia cenie 1 288,32 zł. Promocja ta jest efektem zbiorczych analiz kilkuset hurtowni oraz sklepów w bazie danych.
Podstawowe cechy
ISBN
9780470016084
Oprawa
Twarda
Sprawdź promocyjne oferty na Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications
Prezentujemy listę promocyjnych ofert na Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications jakie udało się odszukać. Zobacz oferty, warunki darmowej i ekspresowej dostawy, a także opinie o produkcie:
Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications (sklep Libristo.pl)
1 288,32 zł
Idź do sklepuSuper oferta
Pokaż wszystkie oferty (1)
Informacje o dostępności produktu i obowiązujących cenach wykorzystane w klasyfikacji synchronizowane są prawie natychmiast.
Pełny opis produktu
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.
Parametry
ISBN
9780470016084
Oprawa
Twarda
Ilość stron
392
Rok wydania
2007
Kategoria
Literatura obcojęzyczna
Producent
John Wiley & Sons Inc
Opinia użytkowników
-
Opinie oraz Recenzje
Czesław M.
18.05.2024
Czy chcesz przesłać nam komentarz i opinię o produkcie **producer
Jeżeli miałeś okoliczność skorzystać z prezentowanego Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications podziel się z użytkownikami swoją recenzją lub opinią. Podaj jakie są Twoje z korzystania, czy nie żałujesz zakupu oraz czy relacja jakości do ceny jest dla Ciebie satysfakcjonująca.