Zdjęcia Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis marki Springer-verlag new york inc.
Literatura obcojęzyczna
Dostępność:Do kupienia
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis Springer-verlag new york inc (Springer-Verlag New York Inc.)
Do kupienia w: Marka: Springer-Verlag New York Inc.
431,34 zł
Idź do sklepuSuper oferta
Skrócony opis produktu
This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive...
Sugerowany artykuł Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis marki Springer-verlag new york inc. jest dostępny w Libristo.pl w naprawdę promocyjnej cenie 431,34 zł. Promocja ta stanowi efekt kompleksowych porównan ogromnej liczby sklepów i hurtowni w bazie.
Podstawowe cechy
ISBN
9781493982691
Oprawa
Miękka
Sprawdź promocyjne oferty na Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis marki Springer-verlag new york inc.
Prezentujemy listę promocyjnych ofert na Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis marki Springer-verlag new york inc. jakie udało się odszukać. Zobacz oferty, warunki darmowej i ekspresowej dostawy, a także opinie o produkcie:
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis marki Springer-verlag new york inc. (sklep Libristo.pl)
431,34 zł
Idź do sklepuSuper oferta
Pokaż wszystkie oferty (1)
Dane na temat dostępności i aktualnych cen zastosowane w naszej klasyfikacji indeksowane są niemal w czasie rzeczywistym.
Pełny opis produktu
This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, elec
Parametry
ISBN
9781493982691
Oprawa
Miękka
Ilość stron
550
Rok wydania
2018
Kategoria
Literatura obcojęzyczna
Producent
Springer-Verlag New York Inc.
Opinia użytkowników
-
Opinie oraz Recenzje
Bronisław N.
21.09.2024
Nadesłane przez konsumentów opinie produktu pomogą innym klientom
Jeśli tylko udało Ci się skorzystać z prezentowanego Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis marki Springer-verlag new york inc. wyślij swoją opinię. Podaj jakie są Twoje odczucia ze stosowania, czy polecasz produkt, a także czy relacja ceny do jakości jest dla Ciebie wystarczająca.